◇变温Hall效应测试仪（77K-350K）
◇变温PL-EL谱测试仪（10K-300K）
◇紫外/可见光透射谱仪（190nm-1100nm）
◇基于汞探针的C-V测试仪（5KHz-5MHz）
◇Agilent 5400 AFM/STM系统
◇Bruker D8Discover HRXRD系统
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