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变温Hall效应测试仪(77K-350K)
变温PL-EL谱测试仪(10K-300K)
紫外/可见光透射谱仪(190nm-1100nm)
基于汞探针的C-V测试仪(5KHz-5MHz)
Agilent 5400 AFM/STM系统
Bruker D8Discover HRXRD系统


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